Thetametrisis膜厚測量儀用于氧化釔（Y?O?）涂層厚度測量。它可快速準(zhǔn)確地繪制大型氧化鋁陶瓷圓盤上的抗等離子涂層Y?O?層厚度。下面我們來看看用Thetametrisis膜厚測量儀測量氧化釔（Y?O?）涂層厚度的具體情況。
Thetametrisis膜厚測量儀測量氧化釔（Y?O?）的案例分析：
氧化釔（Y?O?）是一種非常有前景抗等離子涂層材料，且在集成電路中特征尺寸的持續(xù)減小應(yīng)用在化學(xué)機械拋光后的高度平整工藝用作化學(xué)機械平面化（CMP）的磨料，具有獷泛的應(yīng)用范圍。氧化釔（Y?O?）由于其較高的溫度穩(wěn)定性和對具有高氧親和力的堿性熔體的出色耐受性，還用于許多特殊應(yīng)用，例如絕緣體、玻璃、導(dǎo)電陶瓷、耐火材料、著色劑。其他應(yīng)用包括各種領(lǐng)域的透光材料，例如透鏡、棱鏡或玻璃，作為金屬-鐵電-絕緣體-半導(dǎo)體中合適的緩沖層，用于單晶體管 FeRAM 的結(jié)構(gòu)。在本應(yīng)用說明中，Thetametrisis膜厚測量儀用于在自動測量氧化鋁陶瓷盤上氧化釔的厚度分布圖。
為什么使用它，有什么目的和方法：
被測量的樣品是一個直徑為560mm表面帶有氧化釔（Y?O?）層的氧化鋁圓盤。使用Thetametrisis膜厚測量儀進(jìn)行測量，光譜范圍為370nm-1020nm，能夠測量15nm至100um的涂層厚度。該機型通過旋轉(zhuǎn)和線性載物臺移動樣品來繪制待測樣品厚度分布圖。通過軟件行成的圖案包括樣品表面（R，theta）位置的208個點。
儀器的測量結(jié)果：
在下面的圖像中，氧化釔（Y?O?）層的理論值（紅線）和樣品表面反射光譜（綠線）與厚度分布圖一并呈現(xiàn)說明，如軟件上所見，樣品經(jīng)過數(shù)次重復(fù)性掃描測量以確定工具的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，并得出統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
結(jié)論：
使用Thetametrisis膜厚測量儀成功的測量鋁陶瓷盤的氧化釔（Y?O?）層的厚度分布。通過厚度測量并分析統(tǒng)計區(qū)域的厚度分布和均勻性，快速且無損地測量了薄膜厚度以保護(hù)陶瓷部件在等離子腔體中不受損壞。Thetametrisis膜厚測量儀是一種快速、準(zhǔn)確測量大面積或預(yù)選位置上薄膜或疊層薄膜解決方案。
