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在科研和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,電子顯微鏡作為探索微觀世界的得力工具,其性能的穩(wěn)定性和精確度至關(guān)重要。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,電子顯微鏡往往會(huì)受到各種振動(dòng)干擾,尤其是低頻共振頻率的干擾,這會(huì)嚴(yán)重影響其成像質(zhì)量和測(cè)量精度。為了有效應(yīng)對(duì)這一問(wèn)題,電鏡防振臺(tái)應(yīng)...
折射率測(cè)量?jī)x是利用周圍光線進(jìn)行測(cè)量,不用電池和任何電源,它適合在實(shí)驗(yàn)室或野外使用,取一滴樣品滴到棱鏡中,并讀取數(shù)值就可以了。他的手柄具有橡皮涂層,可與測(cè)量溶液*隔離,可避免使用者自身熱量的散發(fā)使測(cè)量值出現(xiàn)誤差。我們所有的折射計(jì)產(chǎn)品都具有自動(dòng)溫度補(bǔ)償功能:在10°C-30°C時(shí),如自動(dòng)溫度補(bǔ)償設(shè)定為20°C,那么他會(huì)自動(dòng)調(diào)整溫度,也可以利用蒸餾水重新校準(zhǔn),產(chǎn)品裝配專用塑料盒子和校準(zhǔn)起子。測(cè)量原理:通過(guò)測(cè)量棱鏡的折射角確定光學(xué)材料的折射率,講反射鏡式平行光管安裝在氣動(dòng)軸承上,利用...
電容式位移傳感器是以電容器為敏感元件,將機(jī)械位移量轉(zhuǎn)換為電容器電容量變化的一種傳感器。其特點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、分辨率高、工作可靠、動(dòng)態(tài)響應(yīng)好,可實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)量,能在惡劣環(huán)境條件下工作,主要用于位移、液位等方面的測(cè)量。本產(chǎn)品是一種非接觸電容式原理的精密測(cè)量?jī)x器,具有一般非接觸式儀器所共有的無(wú)磨擦、無(wú)損磨和無(wú)惰性特點(diǎn)外,還具有信噪比大,靈敏度高,零漂小,頻響寬,非線性小,精度穩(wěn)定性好,抗電磁能力強(qiáng)和使用操作方便等優(yōu)點(diǎn)。在國(guó)內(nèi)研究所,高等院校、工廠和軍工部門得到廣泛應(yīng)用,成為科研、教學(xué)和...
鍵合機(jī)是一種高度靈活的晶圓鍵合系統(tǒng),可以處理從碎片到200mm的基板尺寸。該工具支持所有常見(jiàn)的晶圓鍵合工藝,例如陽(yáng)極,玻璃粉,焊料,共晶,瞬態(tài)液相和直接法。易于使用的鍵合腔室和工具設(shè)計(jì)允許對(duì)不同的晶圓尺寸和工藝進(jìn)行快速便捷的重新工具化,轉(zhuǎn)換時(shí)間不到5分鐘。這種多功能性非常適合大學(xué),研發(fā)機(jī)構(gòu)或小批量生產(chǎn)應(yīng)用。本產(chǎn)品與大批量制造工具上的鍵合室設(shè)計(jì)相同,鍵合程序易于轉(zhuǎn)移,可輕松擴(kuò)大生產(chǎn)規(guī)模。鍵合機(jī)的結(jié)構(gòu)說(shuō)明:1、爐體:采用雙層水夾層結(jié)構(gòu),爐壁溫度不超過(guò)60℃,內(nèi)外壁為不銹鋼拋光。上...
隨著納米技術(shù)的進(jìn)步和薄膜工藝的發(fā)展(太陽(yáng)能電池,CVD,PVD,DLC,MEMS等),納米力學(xué)測(cè)試已成為標(biāo)準(zhǔn)方法。這種方法改進(jìn)了傳統(tǒng)硬度測(cè)試的不足,通過(guò)J尖的壓劃頭,高的空間分辨率和較精確的原位載荷-位移數(shù)據(jù),可以較精確測(cè)量小載荷和淺壓痕條件下的材料力學(xué)測(cè)試。納米壓痕-單一/多次壓痕,根據(jù)ISO14577測(cè)量薄膜、涂層和塊體材料的硬度,楊氏模量,拉伸和vonMises應(yīng)力,接觸剛度等。納米劃痕-采用恒定、漸進(jìn)和用戶自定義可編程加載方式,評(píng)價(jià)薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕...
白光干涉儀是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域精度最高的檢測(cè)儀器之一。在同等放大倍率下,測(cè)量精度和重復(fù)性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。在一些納米或者亞納米級(jí)別的超高精度加工領(lǐng)域,除了白光干涉儀,其它儀器達(dá)不到檢測(cè)的精度要求。原理:它是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得...